Application-driven Reexamination of Datacenter Microbursts
Informazioni aggiuntive
Autori
Hosseini M.,
Darabi S.,
Pasandi H. B.,
Nakhjiri M.,
Eugster P. T.
Tipo
Contributo in atti di convegno
Anno
2025
Nome convegno
SIGMETRICS '25: ACM SIGMETRICS International Conference on Measurement and Modeling of Computer Systems
Luogo convegno
Stony Brook NY USA
Diffusione
Licenza
Licenza non definita
Visibilità
Privato
