Exploring the Feasibility of Low Cost Fault Injection Attacks on Sub-Threshold Devices through an Example of a 65nm AES Implementation
Informazioni aggiuntive
Autori
Barenghi A.,
Hocquet C.,
Bol D.,
Standaert F. X.,
Regazzoni F.,
Koren I.
Tipo
Contributo in atti di convegno
Anno
2011
Lingua
Inglese
Titolo atti di convegno
7th Workshop on RFID Security and Privacy (RFIDSec)
Number ( Month )
June
Luogo convegno
Amherst, Massachussets, USA
