Simulation and Analysis of Negative-Bias Temperature Instability Aging on Power Analysis Attacks
Informazioni aggiuntive
Autori
Guo X.,
Karimi N.,
Regazzoni F.,
Jin C.,
Karri R.
Tipo
Contributo in atti di convegno
Anno
2015
Lingua
Inglese
Titolo atti di convegno
IEEE Int. Symposium on Hardware-Oriented Security and Trust
Number ( Month )
May
Luogo convegno
McLean, VA, USA
