DeepAtash: Focused Test Generation for Deep Learning Systems
Informazioni aggiuntive
Autori
Zohdinasab T.,
Riccio V.,
Tonella P.
Tipo
Contributo in atti di convegno
Anno
2023
Lingua
Inglese
Titolo atti di convegno
Proc. of ISSTA '23: 32nd ACM SIGSOFT International Symposium on Software Testing and Analysis
Nome convegno
ISSTA '23: 32nd ACM SIGSOFT International Symposium on Software Testing and Analysis
Luogo convegno
Seattle WA USA
Data convegno
2023
Diffusione
Licenza
Licenza non definita
Visibilità
Privato
