A Review and Refinement of Surprise Adequacy
Informazioni aggiuntive
Autori
Weiss M.,
Chakraborty R.,
Tonella P.
Tipo
Contributo in atti di convegno
Anno
2021
Lingua
Inglese
Titolo atti di convegno
Proc. of the 2021 IEEE/ACM Third International Workshop on Deep Learning for Testing and Testing for Deep Learning (DeepTest)
Nome convegno
2021 IEEE/ACM Third International Workshop on Deep Learning for Testing and Testing for Deep Learning (DeepTest)
Luogo convegno
Madrid, Spain
Data convegno
2021
Diffusione
Licenza
Licenza non definita
Visibilità
Privato
